Книга Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
- Серия: Прикладная информатика. Научные статьи
- Жанр: Программирование, Математика
- Год издания: 2014
- Издательство: Синергия
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.