Книга Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
- Жанр: Материаловедение, Практикумы
- Год издания: 2013
- Издательство: МИСиС
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Рекомендуем посмотреть
Орфография и пунктуация. Правила и практикум. Учебное пособие для подготовки к ЕГЭ по русскому языку
Increase Your English. Практикум
Практикум по объектно-ориентированному программированию
Практикум по общей и экспериментальной психологии
Процедуры и методы социологического исследования. Книга 1. Классическое социологическое исследование
Процедуры и методы социологического исследования. Книга 2. Классическое социологическое исследование
Основы стилистики и культуры речи
15 уроков по культуре речи. Практикум для учащихся