Книга Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия
- Жанр: Учебно-методические пособия, Материаловедение
- Год издания: 2016
- Издательство: МИСиС
Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».
Рекомендуем посмотреть
Слабоустойчивые длиннопериодические структуры в металлических системах
Текстильное материаловедение: учебное пособие
Неорганические наноматериалы
Физико-химическая эволюция твердого вещества
Пористые порошковые материалы и изделия на их основе для защиты здоровья человека и охраны окружающей среды: получение, свойства, применение
Технологии конструкционных наноструктурных материалов и покрытий
Термодинамические расчеты в практике конструирования и применения сварочных материалов
Обработка и упрочнение поверхностей при изготовлении и восстановлении деталей