Книга Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений
- Жанр: Учебно-методические пособия, Материаловедение
- Год издания: 2002
- Издательство: МИСиС
В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта.