Материалы микроэлектроники: тонкие пленки для интегрированных устройств
О. М. Жигалина
Кристаллографический анализ структуры металлов. Методические указания к семинарам
О. М. Жигалина
Анализ дефектов кристаллического строения металлов. Методические указания к семинарам
О. М. Жигалина
